日本JIMA RT CT-01B CT分辨率测试卡采用最先进的半导体工艺技术，采用金 (Au) 吸收材料开发了一种新的 CT 分辨率图，适用于从 3 微米到 7 微米的 5 种不同尺寸的线和空间。这是检查 Microfocus X 射线 CT 扫描系统

性能的非常有用且不可或缺的工具，也可用于校准、设置、维护、日常对准等。